Deutscher Presseindex

Autor: Firma Instrument Systems

Display-Messungen bei hoher und niedriger Leuchtdichte
06 Nov.
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Display-Messungen bei hoher und niedriger Leuchtdichte

Instrument Systems hat speziell für Display-Produktionstests unter besonderen Leuchtdichtebedingungen die neuen Farbmesskameras LumiTop X20 und LumiTop X30 entwickelt. Die LumiTop X20 und X30 zeichnen sich durch eine hohe Kameraauflösung (20 MP bzw. 31 MP) sowie einen verbesserten Messbereich von mcd/m² bis Mcd/m² aus. Beide Kameras basieren auf dem spektral optimierten LumiTop-Prinzip, das sich als leistungsstarkesRead more about Display-Messungen bei hoher und niedriger Leuchtdichte[…]

Geschäftsführerwechsel bei Instrument Systems Korea
23 Okt.
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Geschäftsführerwechsel bei Instrument Systems Korea

Jaeho Choi übernimmt zum 1. Oktober 2023 die Position des Geschäftsführers bei Instrument Systems Korea. Mit seiner langjährigen Berufserfahrung in den Bereichen Display, Optik und Sensing wird er das Unternehmen in den nächsten Jahren für ein sehr dynamisches Geschäftsumfeld strategisch stärken und weiter ausbauen. Das Tochterunternehmen von Instrument Systems vertreibt exklusiv das komplette Instrument Systems-PortfolioRead more about Geschäftsführerwechsel bei Instrument Systems Korea[…]

Instrument Systems ist neues Mitglied der MicroLED Industry Association MIA
18 Aug.
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Instrument Systems ist neues Mitglied der MicroLED Industry Association MIA

Instrument Systems ist als einer der führenden Hersteller von Highend-Lichtmesstechnik der MicroLED Industry Association MIA beigetreten. Mit seiner aktiven Mitgliedschaft unterstützt Instrument Systems die Entwicklung und Einführung von μLED-Displaytechnologien. Bereits seit 1986 setzt Instrument Systems weltweit gültige Standards für hochgenaue spektralradiometrische Messungen in der LED-Industrie, engagiert sich in Normungsgremien und Verbänden (z.B. DIN, CIE) undRead more about Instrument Systems ist neues Mitglied der MicroLED Industry Association MIA[…]

Optische Charakterisierung von IR-Emittern
14 Juni
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Optische Charakterisierung von IR-Emittern

Instrument Systems präsentiert auf der LASER WoP 2023 sein umfangreiches Testportfolio für IR-Emitter und VCSEL. Neue Produktentwicklungen im Bereich der Spektralradiometer der CAS-Serie und der VTC-Kameras bedienen den immens gewachsenen Markt der VCSEL-Produktion für den kurzwelligen Infrarot-Bereich von 780 bis 1700 nm. Das neue CAS 140D IR besitzt gegenüber seinem Vorgängermodell eine deutlich verbesserte PerformanceRead more about Optische Charakterisierung von IR-Emittern[…]

Goniometrische Charakterisierung von Curved Displays
17 Mai
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Goniometrische Charakterisierung von Curved Displays

Auf der diesjährigen Display Week, die vom 21.-26. Mai 2023 im Los Angeles Convention Center stattfindet, launcht Instrument Systems sein neuestes Goniometer der DMS-Serie. Das DMS 904 ist auf die optische Charakterisierung von großen und auch Curved Displays zugeschnitten. Basierend auf dem bewährten DMS-Bewegungskonzept besitzt es sieben motorisierte Achsen zur automatischen Vermessung. Die zusätzliche X-AchseRead more about Goniometrische Charakterisierung von Curved Displays[…]

Geschäftsführerwechsel bei Instrument Systems
06 Apr.
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Geschäftsführerwechsel bei Instrument Systems

Yasumasa Kuboyama übernimmt zum 14. April 2023 die Position des Geschäftsführers von Tsutomu Ogasawara und bildet mit CEO Dr. Markus Ehbrecht das neue Geschäftsführungsteam von Instrument Systems. In seiner neuen Rolle wird er für die nächsten Jahre die starke Verbindung zwischen Konica Minolta und Instrument Systems weiter fördern. Sein Vorgänger Tsutomu Ogasawara wechselt zurück nachRead more about Geschäftsführerwechsel bei Instrument Systems[…]

Umfirmierung von Kimsoptec in Instrument Systems Korea
03 Apr.
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Umfirmierung von Kimsoptec in Instrument Systems Korea

Nach dem Erwerb der Kimsoptec Co. Ltd. durch Instrument Systems im August 2022 und der erfolgreichen Integration in den Konzern firmiert der koreanische Hersteller von Displaymesssystemen zum 1. April 2023 in Instrument Systems Korea Co. Ltd. um. CEO ist Dr. Markus Ehbrecht, der seit 2014 CEO von Instrument Systems ist. Managing Directors sind Dr. JinRead more about Umfirmierung von Kimsoptec in Instrument Systems Korea[…]

ISO 17025 konforme Prüfungen vor Ort beim Kunden
13 Feb.
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ISO 17025 konforme Prüfungen vor Ort beim Kunden

Instrument Systems bietet seit Januar 2023 optional seine ISO 17025 konformen Prüfungen der Beleuchtungsstärke auch am Installationsort seiner großen Lichtmessanlagen der AMS und LGS Goniophotometer an. Bisher galt die Akkreditierung für die Vor-Ort-Prüfung nur für die DMS Display-Messsysteme von Instrument Systems. Die Möglichkeit, Geräte zur Erlangung eines ISO 17025 konformen Zertifikats am Installationsort prüfen zuRead more about ISO 17025 konforme Prüfungen vor Ort beim Kunden[…]

Spektrale Charakterisierung von VCSELn, MicroLEDs und AR/VR-Displays
12 Dez.
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Spektrale Charakterisierung von VCSELn, MicroLEDs und AR/VR-Displays

Instrument Systems zeigt auf der SPIE Photonics West 2023 schnelle und hochauflösende Spektralradiometer in Kombination mit innovativen Kamerasystemen zur Vermessung von VCSELn, MicroLEDs und AR/VR-Displays. An Stand 4106 der SPIE Photonics West 2023 (USA) zeigt Instrument Systems seine Spektralradiometer der Premiumklasse sowie kombinierte Messlösungen mit absolut kalibrierten Kameras. Die spektral erweiterte 2D-Farbmesskamera LumiTop steht inRead more about Spektrale Charakterisierung von VCSELn, MicroLEDs und AR/VR-Displays[…]

Spectral characterization of VCSELs, microLEDs and AR/VR displays
12 Dez.
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Spectral characterization of VCSELs, microLEDs and AR/VR displays

At SPIE Photonics West 2023, Instrument Systems will be displaying fast, high-resolution spectroradiometers in combination with innovative camera systems for the measurement of VCSELs, microLEDs and AR/VR displays. Munich, December 2022 – At booth 4106 at SPIE Photonics West 2023 (USA) Instrument Systems will be showcasing its premium-class spectroradiometers and combined measurement solutions with absolutelyRead more about Spectral characterization of VCSELs, microLEDs and AR/VR displays[…]