Deutscher Presseindex

Autor: Firma Instrument Systems

ISO 17025 konforme Prüfungen vor Ort beim Kunden
13 Feb.
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ISO 17025 konforme Prüfungen vor Ort beim Kunden

Instrument Systems bietet seit Januar 2023 optional seine ISO 17025 konformen Prüfungen der Beleuchtungsstärke auch am Installationsort seiner großen Lichtmessanlagen der AMS und LGS Goniophotometer an. Bisher galt die Akkreditierung für die Vor-Ort-Prüfung nur für die DMS Display-Messsysteme von Instrument Systems. Die Möglichkeit, Geräte zur Erlangung eines ISO 17025 konformen Zertifikats am Installationsort prüfen zuRead more about ISO 17025 konforme Prüfungen vor Ort beim Kunden[…]

Spektrale Charakterisierung von VCSELn, MicroLEDs und AR/VR-Displays
12 Dez.
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Spektrale Charakterisierung von VCSELn, MicroLEDs und AR/VR-Displays

Instrument Systems zeigt auf der SPIE Photonics West 2023 schnelle und hochauflösende Spektralradiometer in Kombination mit innovativen Kamerasystemen zur Vermessung von VCSELn, MicroLEDs und AR/VR-Displays. An Stand 4106 der SPIE Photonics West 2023 (USA) zeigt Instrument Systems seine Spektralradiometer der Premiumklasse sowie kombinierte Messlösungen mit absolut kalibrierten Kameras. Die spektral erweiterte 2D-Farbmesskamera LumiTop steht inRead more about Spektrale Charakterisierung von VCSELn, MicroLEDs und AR/VR-Displays[…]

Spectral characterization of VCSELs, microLEDs and AR/VR displays
12 Dez.
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Spectral characterization of VCSELs, microLEDs and AR/VR displays

At SPIE Photonics West 2023, Instrument Systems will be displaying fast, high-resolution spectroradiometers in combination with innovative camera systems for the measurement of VCSELs, microLEDs and AR/VR displays. Munich, December 2022 – At booth 4106 at SPIE Photonics West 2023 (USA) Instrument Systems will be showcasing its premium-class spectroradiometers and combined measurement solutions with absolutelyRead more about Spectral characterization of VCSELs, microLEDs and AR/VR displays[…]

VCSEL-Analysekamera von Instrument Systems gewinnt Photonik-Award
27 Okt.
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VCSEL-Analysekamera von Instrument Systems gewinnt Photonik-Award

Instrument Systems präsentierte seine neue Infrarotkamera VTC 4000 Anfang 2022 auf der Photonics West. Eine Jury aus Experten der Photonik-Industrie zeichnete diese Kamera nun mit dem „Laser Focus World Innovators Award 2022“ in Silber aus. Die VCSEL-Analysekamera VTC 4000 ist speziell für die ultraschnelle und präzise 2D-Nahfeldanalyse von schmalbandigen Emittern, wie z.B. VCSEL oder Lasern,Read more about VCSEL-Analysekamera von Instrument Systems gewinnt Photonik-Award[…]

LumiTop gewährleistet Qualität von μLED-Arrays in AFS-Anwendungen
19 Sep.
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LumiTop gewährleistet Qualität von μLED-Arrays in AFS-Anwendungen

Die intelligente Kombination aus instantaner spektralradiometrischer Referenzmessung und kamerabasierter Farb- und Helligkeitsmessung prädestiniert das LumiTop-System von Instrument Systems für die Qualitätsprüfung von µLED-Modulen.  München, September 2022 – Instrument Systems zeigt auf der Light+Building in Frankfurt Halle 8.0 H38 seine spektral erweiterte 2D-Farbmesskamera LumiTop 4000 zur Prüfung von μLED-Arrays in AFS-Anwendungen. Die 12 MP Kamera misstRead more about LumiTop gewährleistet Qualität von μLED-Arrays in AFS-Anwendungen[…]

Instrument Systems verstärkt seine Kerngeschäftsfelder Display Testing und Optische Messtechnik
28 Juli
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Instrument Systems verstärkt seine Kerngeschäftsfelder Display Testing und Optische Messtechnik

Instrument Systems GmbH (Instrument Systems), ein Münchner Hersteller von hochpräzisen Spektralradiometern, Kameras und komplexen Display- und Lichtmesssystemen, übernimmt koreanischen Hersteller von Displaymesssystemen, um seine Kerngeschäftsfelder Display Testing und Optische Messtechnik zu stärken. Der Kaufvertrag über den Erwerb von 100 % der Anteile an Kimsoptec Co., Ltd. (Kimsoptec), seit 2005 exklusiver Distributor des Instrument Systems ProduktportfoliosRead more about Instrument Systems verstärkt seine Kerngeschäftsfelder Display Testing und Optische Messtechnik[…]

Neuer CIE-Report zur Spektralradiometrie
25 Juli
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Neuer CIE-Report zur Spektralradiometrie

Unter wissenschaftlicher Leitung von Instrument Systems hat das Technical Committee TC2-80 der CIE einen neuen Technischen Report zu spektralradiometrischen Messungen von optischen Strahlungsquellen erstellt. Das jetzt als CIE 250:2022 veröffentlichte Dokument löst den fast 40 Jahre alten Bericht CIE 063-1984 ab. Praxisorientiert erklärt er die grundlegenden Messprinzipien und gibt praktische Hinweise für die Messung vonRead more about Neuer CIE-Report zur Spektralradiometrie[…]

Fernfeld-Analyse von Infrarotquellen
23 Mai
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Fernfeld-Analyse von Infrarotquellen

Die Infrarotkamera VTC 2400 von Instrument Systems ist passgenau für die Fernfeldanalyse von IR-Emittern entwickelt und sowohl für den Einsatz in Labor als auch Produktion ausgelegt. Sie ist spezialisiert auf die Analyse von VCSEL-Applikationen, wie 3D-Sensing in Smartphones oder LiDAR-Systemen in der Automobilindustrie. Das kosteneffiziente System besteht aus einem lichtdurchlässigen, diffus streuenden Schirm und einerRead more about Fernfeld-Analyse von Infrarotquellen[…]