Ein Blick hinter die Technologie
In der Halbleiterindustrie sind transparente Materialflüsse und eine kontinuierlich aktuelle Bestandsübersicht entscheidende Voraussetzungen für effiziente Produktionsprozesse. Gerade bei WIP-Materialien (Work in Progress), Wafer-Behältern und FOUPs ist eine zuverlässige und automatisierte Erfassung entlang des Materialflusses von zentraler Bedeutung. Die HERMOS RFID-WIP-Regallösungen setzen dabei auf eine ereignisgesteuerte Datenerfassung. Ein integrierter optischer Sensor erkennt Veränderungen an den einzelnenRead more about Ein Blick hinter die Technologie[…]
