Deutscher Presseindex

Autor: Firma Instrument Systems

Spektrale Charakterisierung von VCSELn, MicroLEDs und AR/VR-Displays
12 Dez.
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Spektrale Charakterisierung von VCSELn, MicroLEDs und AR/VR-Displays

Instrument Systems zeigt auf der SPIE Photonics West 2023 schnelle und hochauflösende Spektralradiometer in Kombination mit innovativen Kamerasystemen zur Vermessung von VCSELn, MicroLEDs und AR/VR-Displays. An Stand 4106 der SPIE Photonics West 2023 (USA) zeigt Instrument Systems seine Spektralradiometer der Premiumklasse sowie kombinierte Messlösungen mit absolut kalibrierten Kameras. Die spektral erweiterte 2D-Farbmesskamera LumiTop steht inRead more about Spektrale Charakterisierung von VCSELn, MicroLEDs und AR/VR-Displays[…]

Spectral characterization of VCSELs, microLEDs and AR/VR displays
12 Dez.
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Spectral characterization of VCSELs, microLEDs and AR/VR displays

At SPIE Photonics West 2023, Instrument Systems will be displaying fast, high-resolution spectroradiometers in combination with innovative camera systems for the measurement of VCSELs, microLEDs and AR/VR displays. Munich, December 2022 – At booth 4106 at SPIE Photonics West 2023 (USA) Instrument Systems will be showcasing its premium-class spectroradiometers and combined measurement solutions with absolutelyRead more about Spectral characterization of VCSELs, microLEDs and AR/VR displays[…]

VCSEL-Analysekamera von Instrument Systems gewinnt Photonik-Award
27 Okt.
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VCSEL-Analysekamera von Instrument Systems gewinnt Photonik-Award

Instrument Systems präsentierte seine neue Infrarotkamera VTC 4000 Anfang 2022 auf der Photonics West. Eine Jury aus Experten der Photonik-Industrie zeichnete diese Kamera nun mit dem „Laser Focus World Innovators Award 2022“ in Silber aus. Die VCSEL-Analysekamera VTC 4000 ist speziell für die ultraschnelle und präzise 2D-Nahfeldanalyse von schmalbandigen Emittern, wie z.B. VCSEL oder Lasern,Read more about VCSEL-Analysekamera von Instrument Systems gewinnt Photonik-Award[…]

LumiTop gewährleistet Qualität von μLED-Arrays in AFS-Anwendungen
19 Sep.
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LumiTop gewährleistet Qualität von μLED-Arrays in AFS-Anwendungen

Die intelligente Kombination aus instantaner spektralradiometrischer Referenzmessung und kamerabasierter Farb- und Helligkeitsmessung prädestiniert das LumiTop-System von Instrument Systems für die Qualitätsprüfung von µLED-Modulen.  München, September 2022 – Instrument Systems zeigt auf der Light+Building in Frankfurt Halle 8.0 H38 seine spektral erweiterte 2D-Farbmesskamera LumiTop 4000 zur Prüfung von μLED-Arrays in AFS-Anwendungen. Die 12 MP Kamera misstRead more about LumiTop gewährleistet Qualität von μLED-Arrays in AFS-Anwendungen[…]

Instrument Systems verstärkt seine Kerngeschäftsfelder Display Testing und Optische Messtechnik
28 Juli
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Instrument Systems verstärkt seine Kerngeschäftsfelder Display Testing und Optische Messtechnik

Instrument Systems GmbH (Instrument Systems), ein Münchner Hersteller von hochpräzisen Spektralradiometern, Kameras und komplexen Display- und Lichtmesssystemen, übernimmt koreanischen Hersteller von Displaymesssystemen, um seine Kerngeschäftsfelder Display Testing und Optische Messtechnik zu stärken. Der Kaufvertrag über den Erwerb von 100 % der Anteile an Kimsoptec Co., Ltd. (Kimsoptec), seit 2005 exklusiver Distributor des Instrument Systems ProduktportfoliosRead more about Instrument Systems verstärkt seine Kerngeschäftsfelder Display Testing und Optische Messtechnik[…]

Neuer CIE-Report zur Spektralradiometrie
25 Juli
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Neuer CIE-Report zur Spektralradiometrie

Unter wissenschaftlicher Leitung von Instrument Systems hat das Technical Committee TC2-80 der CIE einen neuen Technischen Report zu spektralradiometrischen Messungen von optischen Strahlungsquellen erstellt. Das jetzt als CIE 250:2022 veröffentlichte Dokument löst den fast 40 Jahre alten Bericht CIE 063-1984 ab. Praxisorientiert erklärt er die grundlegenden Messprinzipien und gibt praktische Hinweise für die Messung vonRead more about Neuer CIE-Report zur Spektralradiometrie[…]

Fernfeld-Analyse von Infrarotquellen
23 Mai
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Fernfeld-Analyse von Infrarotquellen

Die Infrarotkamera VTC 2400 von Instrument Systems ist passgenau für die Fernfeldanalyse von IR-Emittern entwickelt und sowohl für den Einsatz in Labor als auch Produktion ausgelegt. Sie ist spezialisiert auf die Analyse von VCSEL-Applikationen, wie 3D-Sensing in Smartphones oder LiDAR-Systemen in der Automobilindustrie. Das kosteneffiziente System besteht aus einem lichtdurchlässigen, diffus streuenden Schirm und einerRead more about Fernfeld-Analyse von Infrarotquellen[…]