Deutscher Presseindex

Autor: Firma Instrument Systems

Instrument Systems verstärkt seine Kerngeschäftsfelder Display Testing und Optische Messtechnik
28 Juli
Posted in Firmenintern No comments

Instrument Systems verstärkt seine Kerngeschäftsfelder Display Testing und Optische Messtechnik

Instrument Systems GmbH (Instrument Systems), ein Münchner Hersteller von hochpräzisen Spektralradiometern, Kameras und komplexen Display- und Lichtmesssystemen, übernimmt koreanischen Hersteller von Displaymesssystemen, um seine Kerngeschäftsfelder Display Testing und Optische Messtechnik zu stärken. Der Kaufvertrag über den Erwerb von 100 % der Anteile an Kimsoptec Co., Ltd. (Kimsoptec), seit 2005 exklusiver Distributor des Instrument Systems ProduktportfoliosRead more about Instrument Systems verstärkt seine Kerngeschäftsfelder Display Testing und Optische Messtechnik[…]

Neuer CIE-Report zur Spektralradiometrie
25 Juli
Posted in Produktionstechnik No comments

Neuer CIE-Report zur Spektralradiometrie

Unter wissenschaftlicher Leitung von Instrument Systems hat das Technical Committee TC2-80 der CIE einen neuen Technischen Report zu spektralradiometrischen Messungen von optischen Strahlungsquellen erstellt. Das jetzt als CIE 250:2022 veröffentlichte Dokument löst den fast 40 Jahre alten Bericht CIE 063-1984 ab. Praxisorientiert erklärt er die grundlegenden Messprinzipien und gibt praktische Hinweise für die Messung vonRead more about Neuer CIE-Report zur Spektralradiometrie[…]

Fernfeld-Analyse von Infrarotquellen
23 Mai
Posted in Produktionstechnik No comments

Fernfeld-Analyse von Infrarotquellen

Die Infrarotkamera VTC 2400 von Instrument Systems ist passgenau für die Fernfeldanalyse von IR-Emittern entwickelt und sowohl für den Einsatz in Labor als auch Produktion ausgelegt. Sie ist spezialisiert auf die Analyse von VCSEL-Applikationen, wie 3D-Sensing in Smartphones oder LiDAR-Systemen in der Automobilindustrie. Das kosteneffiziente System besteht aus einem lichtdurchlässigen, diffus streuenden Schirm und einerRead more about Fernfeld-Analyse von Infrarotquellen[…]